第十二届IC测试研讨会
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活动背景
近年来，国内IC产业发展迅猛，国家在集成电路（IC）产业也大力扶持，半导体行业在未来的10到20年内或将成为国家的支柱性型产业，从目前的全国各地大举建造半导体工厂就可见一斑，半导体的高速发展必然会推动其测试技术的发展，从分立器件到简单的模拟芯片，从低频模拟器件到混合信号芯片，再到RF，到SOC器件，这每一次的芯片发展都给测试带来了巨大的挑战，测试的挑战不仅仅在于可以满足参数的测试，更重要的在于能否精准的，高效的，低成本的把测试解决。随着芯片的复杂度越来越高，有别于ATE量产测试的失效分析测试，也逐渐引起业界的注意，目前的失效分析已经不仅仅依靠简单的X-RAY，Decap手段，还有更多的工具和手段进行更细致的分析。所以本次研讨会我们邀请了业界资深人士，针对RF器件测试，混合信号测试以及失效分析测试做一个典型的技术探讨，相信这又是一次极难得的技术提高机会，各位业界同仁千万别错过！
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时间地点
沙龙时间：2018年11月24日（周六） 13:30-17:30
沙龙地点：上海浦东新区张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡（地铁2号线张江高科站5号口出）
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日程安排
本次研讨会的赞助商也是非常有爱心，为大家准备了异常丰富的礼品， 暂定的赞助商如下，同仁们多支持。
特别说明：由于本活动是公益活动，以技术交流为主，故销售人员需要参加，费用为￥100每人，且限额10名，敬请理解~~
为保证研讨质量，本次研讨会限额130人，报名截止日期11月23日，先报先得，大家抓紧……
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